鐵電材料測試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測量,可用于鐵電體的研究,也可作為近代物理實驗中的固體物理實驗設(shè)備,同時可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測設(shè)備。該鐵電性能測量系統(tǒng)不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù),還可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較測量鐵電薄膜的鐵電性能。該系統(tǒng)配鐵電高壓模塊和鐵電高壓驅(qū)動模塊,可測量陶瓷材料的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計,實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于儀器內(nèi)部的器件精度,比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實現(xiàn)較高的測量度。
鐵電材料測試系統(tǒng)綜合了頻率響應(yīng)、電壓范圍和精度于一體。系統(tǒng)配有一個快速的遲滯額定頻率250kHz的+ / - 10v, 使得薄膜和散裝陶瓷的測試變得快速和簡單。無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IC,IV的測試。配備額外的模塊,可實現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測試。
可實現(xiàn)的測試功能:
1.電滯回線測試;
2.記憶特性測試;
3.漏電流測試;
4.疲勞測試;
5.脈沖測試;
6.IV測試;
7.CV測試保持力測試;
8.印痕測試。