產(chǎn)品型號(hào)：TF Analyzer 2000E

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-06-06

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

模塊化設(shè)計(jì)的TF Analyzer 2000具有擴(kuò)展性。

FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試；

MR模塊-磁阻和鐵性材料測(cè)試；

RX模塊-弛豫電流測(cè)試；

DR模塊-自放電測(cè)試。

鐵電壓電分析儀測(cè)試基本單元：包括內(nèi)置完整的專用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。

FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率（增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz）；

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試；

PUND 脈沖測(cè)試；

Fatigue 疲勞測(cè)試；

Retention 保持力；

Imprint 印跡；

Leakage current漏電流測(cè)試；

Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能。

FE模塊可選測(cè)試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；

Piezo Measurement壓電性能測(cè)試；

Pyroelectric Measurement熱釋電性能測(cè)試；

In-situ Compensation 原位補(bǔ)償；

DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能；

Impedance Measurement 阻抗測(cè)試 (僅適用于高速增強(qiáng)型)。

技術(shù)說(shuō)明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV）；

電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；

脈沖寬度min：50ns；

上升時(shí)間min：10ns；

疲勞頻率max：16MHz；

電流放大范圍：1pA～1A；

負(fù)荷電容max：1nF；

輸出電流峰值：+/-1 A。

可擴(kuò)展部件：
 高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。

MR模塊是用來(lái)研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品上的電壓降通過(guò)高的精度四點(diǎn)測(cè)試。

RX模塊是用來(lái)研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi)，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。

DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。

由于測(cè)試條件接近實(shí)際情況，因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。

華測(cè)鐵電分析儀/測(cè)試儀器

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